晶閘管投入電容器的時刻，也就是晶閘管開通的時刻，必須是電源電壓與(yu) 電容器殘壓的幅值和相位相同的時刻。因為(wei) 根據電容器的特性，當加在電容上的電壓有階躍變化時，將產(chan) 生衝(chong) 擊電流，會(hui) 損壞晶閘管且給所在電力係統帶來高頻振蕩等不利影響。所以設計了晶閘管過零檢測電路來解決(jue) 殘壓測量的難題。晶閘管過零檢測電路如圖3所示。

　　當電源電壓與(yu) 電容器的殘壓相等時，晶閘管上電壓為(wei) 零，光電耦合器就會(hui) 輸出下降沿負脈衝(chong) 至單片機INT0、INT1管腳，如果此時控製器投入指令存在，此脈衝(chong) 就會(hui) 經過一係列環節，產(chan) 生脈衝(chong) 串去觸發晶閘管，保證晶閘管的導通，平穩投入電容器;當電源電壓與(yu) 電容器的殘壓不相等時，晶閘管上電壓不為(wei) 零，光耦導通，接到單片機的INT0、INT1呈高電平，在軟件中設置此種情況不產(chan) 生觸發脈衝(chong) ，晶閘管呈關(guan) 斷狀態。