光耦的簡易測試方法
由於(yu) 光電耦合器的組成方式不盡相同，所以在檢測時應針對不同的結構特點，采取不同的檢測方法。例如，在檢測普通光電耦合器的輸入端時，一般均參照紅外發光二極管的檢測方法進行。對於(yu) 光敏三極管輸出型的光電耦合器，檢測輸出端時應參照光敏三極管的檢測方法進行。

1.萬(wan) 用表檢測法。
這裏以MF50型指針式萬(wan) 用表和4腳PC817型光電耦合器為(wei) 例，說明具體(ti) 檢測方法：首先，按照圖1（a）所示，將指針式萬(wan) 用表置於(yu) “R×100”（或“R×1k”）電阻擋，紅、黑表筆分別接光電耦合器輸入端發光二極管的兩(liang) 個(ge) 引腳。如果有一次表針指數為(wei) 無窮大，但紅、黑表筆互換後有幾千至十幾千歐姆的電阻值，則此時黑表筆所接的引腳即為(wei) 發光二極管的正極，紅表筆所接的引腳為(wei) 發光二極管的負極。
然後，按照圖1（b）所示，在光電耦合器輸入端接入正向電壓，將指針式萬(wan) 用表仍然置於(yu) “R×100”電阻擋，紅、黑表筆分別接光電耦合器輸出端的兩(liang) 個(ge) 引腳。如果有一次表針指數為(wei) 無窮大（或電阻值較大），但紅、黑表筆互換後卻有很小的電阻值（＜100Ω），則此時黑表筆所接的引腳即為(wei) 內(nei) 部NPN型光敏三極管的集電極c、紅表筆所接的引腳為(wei) 發射極e。當切斷輸入端正向電壓時，光敏三極管應截止，萬(wan) 用表指數應為(wei) 無窮大。這樣，不僅(jin) 確定了4腳光電耦合器PC817的引腳排列，而且還檢測出它的光傳(chuan) 輸特性正常。如果檢測時萬(wan) 用表指針始終不擺動，則說明光電耦合器已損壞。 


 



圖1 光電耦合器的檢測

需要說明的是：光電耦合器中常用紅外發光二極管的正向導通電壓較普通發光二極管要低，一般在1.3V以下，所以可以用指針式萬(wan) 用表的“R×100”電阻擋直接測量，並且圖1（b）中的電池G電壓取1.5V（用1節5號電池）即可。還可用圖1（a）所示的萬(wan) 用表接線直接取代圖1（b）所示的輸入端所接正向電壓（即電阻器R和電池G），使測量更方便，隻不過需要增加一塊萬(wan) 用表。
至於(yu) 多通道光電耦合器的檢測，應首先將所有發光二極管的管腳判別出來，然後再確定對應的光敏三極管的管腳。對於(yu) 在線路的光電耦合器，最好的檢測方法是“比較法”，即拆下懷疑有問題的光電耦合器，用萬(wan) 用表測量其內(nei) 部二極管、三極管的正向和反向電阻值，並與(yu) 好的同型號光電耦合器對應腳的測量值進行比較，若阻值相差較大，則說明被測光電耦合器已損壞。

2.鑒別器檢測法。
筆者多年前曾根據光電耦合器的原理，設計製作了一個(ge) 能夠快速判斷光電耦合器好壞的小巧鑒別器，其電路如圖2所示。當將光電耦合器的輸入、輸出引腳分清極性後正確插入鑒別器的4個(ge) 相應插孔內(nei) 時，如果發光二極管VD1、VD2同步閃爍發光，則證明光電耦合器完好。如果VD1不閃爍發光，則說明光電耦合器內(nei) 部發光管已開路；如果VD1閃爍發光，但VD2不亮或恒定發光，說明光電耦合器內(nei) 部不是發光管失效就是光敏晶體(ti) 管已開路或擊穿損壞。 
 


 

圖2 光電耦合器鑒別器電路圖 圖3 自製光電耦合器

製作時，VD1用紅色閃爍發光二極管，VD2用綠色普通發光二極管。R用RTX-1/8W型碳膜電阻器。4個(ge) 管腳插孔可用0.4mm～0.6mm的裸銅絲(si) ，在一枚2號大頭針上密繞十幾圈，並在尾端留出長度大於(yu) 3cm的焊接引線（應套上絕緣管），然後脫胎而成。G用4節5號幹電池串聯（6V）而成，如用4F20-6V型疊層幹電池會(hui) 更方便。整個(ge) 電路可焊裝在一個(ge) 體(ti) 積合適的塑料小盒內(nei) ，麵板開孔伸出兩(liang) 個(ge) 發光二極管的管帽和4個(ge) 插孔。注意：輸入和輸出插孔的間距不要超過1cm，各插孔伸出的引線長度不要小於(yu) 2cm，便於(yu) 靈活互換位置，以適應不同型號和引腳排列的光電耦合器檢測。本裝置不設電源開關(guan) ，用畢拔掉光電耦合器，電源即被自動切斷。