本測試器可用來測試晶體(ti) 三極管、二極管、LED、（單雙向）可控矽、電容和開關(guan) 的通斷特性，電路見圖1。

　　測晶體(ti) 三極管時，將引腳分別插入C、B、E，並根據三極管類型置好NPN/PNP開關(guan) ，按下S1，如晶體(ti) 三極管良好，相應的LED便會(hui) 發光。
　　測二極管時，陽極和陰極分別接在“+”和“-”端，開關(guan) 置於(yu) NPN位置，LED1應發光。
　　測LED時，將LED的陽極和陰極分別插入B、E，開關(guan) 置於(yu) NPN位置，按下S1，被測LED應發光。
　　測單向可控矽時，將開關(guan) 置於(yu) NPN位置，將引腳A、K、G分別連接C、E、B，按下S1放開後，LED1應仍保留在發光狀態。
　　測雙向可控矽時，將開關(guan) 置於(yu) NPN位置，將引腳T1、T2、G分別連接C、E、B，按下S1，LED1應發光，鬆開後應熄滅。
　　測電容時，將電容兩(liang) 端在分別連接“+”和“-”端，來回掀動NPN/PNP開關(guan) ，LED1和LED2應輪流發光，表示電容良好，但不能得出電容值。
　　測開關(guan) 通斷時，NPN/PNP開關(guan) 置於(yu) 任意位置，將被測開關(guan) 接入“+”和“-”，如待測開關(guan) 閉合且是好的，根據NPN/PNP開關(guan) 位置的不同，LED1或LED2就發光，否則開關(guan) 未閉合或開關(guan) 已壞。