本文介紹一款簡單易作的晶振測試裝置，原理電路如附圖所示。

 
圖中，V1及其外圍元件（包括被測晶振）共同組成一個(ge) 電容三點式振蕩器。當探頭X1、X2兩(liang) 端接入被測晶振時，電路振蕩。振蕩信號經V2射極跟隨級放大後輸出，經C4耦合、D1、D2倍壓整流後為(wei) V3提供偏置電流，V3導通，LED發光。若晶振不良或斷路，電路則不能起振，因而LED不發光。

該裝置結構簡單，所用元件極為(wei) 普遍，而且隻要元件質量良好，裝配無誤，不需調試即可一次成功。探頭可利用兩(liang) 個(ge) 插孔代替。也可以選用帶電纜的表筆或測試棒，但引線不宜過長。該測試議可測試頻率為(wei) 450KHz～49MHz的各種晶振，工作電源推薦采用6V疊層電池。